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        透射電鏡和掃描電鏡樣品

        透射電鏡主要用于觀察生物樣品內部精細的結構,用于透射電鏡觀察的生物樣品往往需制備成超薄切片,病毒、細菌等需用滴液法,或在滴液法基礎上發展出來的其他類似方法如直接貼印法、噴霧法等主要被用于觀察病毒粒子細菌的形態及生物大分子等。

        掃描電鏡主要用于觀察物品的表面結構。樣品制備簡單,可觀察較大、較厚的樣品,觀察試樣為不同大小的固體(塊狀、薄膜、顆粒、粉末),并可在真空中直接進行觀察。樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。

         掃描電鏡

        SEM 制樣對樣品的厚度沒有特殊要求,可以采用切、磨、拋光或解理等方法將特定剖面呈現出來,從而轉化為可以觀察的表面。這樣的表面如果直接觀察,看到的只有表面加工損傷,一般要利用不同的化學溶液進行擇優腐蝕,才能產生有利于觀察的襯度。不過腐蝕會使樣品失去原結構的部分真實情況,同時引入部分人為的干擾,對樣品中厚度極小的薄層來說,造成的誤差更大。

        透射電鏡

        由于TEM 得到的顯微圖像的質量強烈依賴于樣品的厚度,因此樣品觀測部位要非常的薄,例如存儲器器件的TEM 樣品一般只能有10~100nm 的厚度,這給TEM 制樣帶來很大的難度。初學者在制樣過程中用手工或者機械控制磨制的成品率不高,一旦過度削磨則使該樣品報廢。TEM 制樣的另一個問題是觀測點的定位,一般的制樣只能獲得10mm 量級的薄的觀測范圍,這在需要精確定位分析的時候,目標往往落在觀測范圍之外。目前比較理想的解決方法是通過聚焦離子束刻蝕(FIB )來進行精細加工。

         

         

         

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